Prosessin kyvykkyys passikirjan valmistuksessa
Dorochenko, Aatu (2016)
Dorochenko, Aatu
Metropolia Ammattikorkeakoulu
2016
All rights reserved
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-201701181467
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-201701181467
Tiivistelmä
Turvapainotuotteita valmistavan teknologiayhtiön tilaamassa insinöörityössä selvitettiin passikirjan valmistuksessa ilmenevää kohdistusvaihtelua ja prosessin kyvykkyyttä eri työvaiheissa offsetpainatuksesta kirjansidontaan. Epäkohtien osoittamiseen käytettiin Six Sigma -työnkulun menetelmiä. Työtä alustaneiden haastattelujen perusteella tutkimusongelmaksi valittiin eri sivuparien välinen kohdistusvaihtelu.
Mittaukset suoritettiin siltä osin, kuin vaihteluun on mahdollista vaikuttaa prosessiteknisillä parannuksilla tekemättä painoaineiston asemointiin laskennallisia korjauksia, kuten paperin paksuudesta ja sidontatavasta johtuvan viuhkailmiön kompensointi.
Työssä mitattiin offsetpainatuksen paikan vaihtelu paperiarkin reunan suhteen, leikkauksen vaihtelu arkin reunan ja offsetpainatuksen suhteen, taiton vaihtelua arkin reunan ja taittoa edeltävän leikkauksen suhteen, taiton vaihtelua painatuksen suhteen sekä leikattujen ja taitettujen materiaalien painatuksen asemoitumista sidotun puolivalmisteen jokaisen sivuparin lävistävän ompeleen suhteen.
Mittaustulosten analysointiin käytettiin tilastollisen analyysin perustyökaluja. Mittauksista selvisi, että prosessit yksittäin tarkasteltuina ovat kykeneviä lopputuotteelta vaadittuun sisäiseen tarkkuuteen, mutta kokonaisuutena tarkasteltuna prosessi ei kykene vastaamaan ±1 millimetrin toleranssin vaatimukseen jokaisen sivuparin osalta. Analyysi osoitti, että vaihtelu on huomattavaa taitetun puolivalmisteen sisällä, ei niinkään taitettujen puolivalmisteiden välillä.
Vaihtelu tunnistettiin sidotusta puolivalmisteesta mitattaessa ompeleen sijoittumista painetun materiaalin keskilinjaan sivupareittain. Tulokset osoittivat, että arkkitaitossa käytettävällä kohdistuskulmalla on olennainen rooli taitosta aiheutuvan vaihtelun hallinnassa.
Työn tulokset mahdollistavat kohdistusvaihtelun merkittävän vähentämisen. Korjaavien toimenpiteiden seurauksena saavutettava kohdistustarkkuuden paraneminen tarjoaa mahdollisuuden vapauttaa kohdistusvaihtelusta aiheutuvia rajoitteita tuotesuunnittelussa. Kohdistustarkkuuden paraneminen toimii myös pohjana viuhkailmiön laskennallisen huomioinnin käyttöönotolle arkkiasemointivaiheessa.
Mittaukset suoritettiin siltä osin, kuin vaihteluun on mahdollista vaikuttaa prosessiteknisillä parannuksilla tekemättä painoaineiston asemointiin laskennallisia korjauksia, kuten paperin paksuudesta ja sidontatavasta johtuvan viuhkailmiön kompensointi.
Työssä mitattiin offsetpainatuksen paikan vaihtelu paperiarkin reunan suhteen, leikkauksen vaihtelu arkin reunan ja offsetpainatuksen suhteen, taiton vaihtelua arkin reunan ja taittoa edeltävän leikkauksen suhteen, taiton vaihtelua painatuksen suhteen sekä leikattujen ja taitettujen materiaalien painatuksen asemoitumista sidotun puolivalmisteen jokaisen sivuparin lävistävän ompeleen suhteen.
Mittaustulosten analysointiin käytettiin tilastollisen analyysin perustyökaluja. Mittauksista selvisi, että prosessit yksittäin tarkasteltuina ovat kykeneviä lopputuotteelta vaadittuun sisäiseen tarkkuuteen, mutta kokonaisuutena tarkasteltuna prosessi ei kykene vastaamaan ±1 millimetrin toleranssin vaatimukseen jokaisen sivuparin osalta. Analyysi osoitti, että vaihtelu on huomattavaa taitetun puolivalmisteen sisällä, ei niinkään taitettujen puolivalmisteiden välillä.
Vaihtelu tunnistettiin sidotusta puolivalmisteesta mitattaessa ompeleen sijoittumista painetun materiaalin keskilinjaan sivupareittain. Tulokset osoittivat, että arkkitaitossa käytettävällä kohdistuskulmalla on olennainen rooli taitosta aiheutuvan vaihtelun hallinnassa.
Työn tulokset mahdollistavat kohdistusvaihtelun merkittävän vähentämisen. Korjaavien toimenpiteiden seurauksena saavutettava kohdistustarkkuuden paraneminen tarjoaa mahdollisuuden vapauttaa kohdistusvaihtelusta aiheutuvia rajoitteita tuotesuunnittelussa. Kohdistustarkkuuden paraneminen toimii myös pohjana viuhkailmiön laskennallisen huomioinnin käyttöönotolle arkkiasemointivaiheessa.