A review of methods of analysis for white top mottling
Vuori, Veikko (2023)
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2023051611000
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2023051611000
Tiivistelmä
Pakkauskartonkien laatuvaatimukset kasvavat jatkuvasti. Tämä asettaa paineita niin valmistus- kuin mittaustavoille. Valkopintainen WTL (White Top Linerboard) koostuu valkaistusta pintakerroksesta ja valkaisemattomasta runkorakenteesta. Pintakerros on huomattavasti kalliimpi kuin runkomateriaali, joten sen määrä pyritään minimoimaan. Liian ohuesta ja epätasaisesta pintakerroksesta läpi näkyvä valkaisematon kuitu aiheuttaa pinnalle laikukkaan vaikutelman. Tätä ilmiötä kutsutaan nimellä White Top Mottling eli valkoisen pinnan heijasteen eihaluttu variaatio homogeenisessa valaistuksessa.
Opinnäytetyössä kerättiin tietoa white top mottlingin analysointiin liittyvistä fysikaalisista ja fysiologisista tekijöistä sekä käytössä olevista menetelmistä. Ulkopakkauskartonkilajien valmistuksen ja tuoteperheen esittelyn jälkeen käsitellään mottlingin optiseen mittaukseen liittyviä termejä ja käsitteitä. Seuraavaksi on katsaus ihmisen näköjärjestelmän toiminnasta ja havainnoinnin rajoitteista. Mottlingin mallintaminen ja analyysimenetelmien rakentaminen perustuvat ihmisen näköjärjestelmän kykyyn havainnoida valon aallonpituuden ja intensiteetin variaatioita. Lopuksi esitellään yleisesti mottling-analyysiin käytettyjä menetelmiä, kuten Fourier (taajuus-)analyysi, myötäesiintymä (co-occurence), FFT, aallokekuvan kohinan vaimennuksen (wavelet image denoising) teoria ja moniulotteinen skaalaus. Liitteenä on muutama kaupallisesti tarjolla oleva mottlinganalyysimenetelmä.
Käytössä olevat menetelmät, kuten STFI mottling expert, antavat yksiköttömän, painotetun vaihtelukertoimen arvioina mottlingista. Nämä menetelmät ovat tehty ensisijaisesti painojäljen mottlingin mittaamiseen, mutta soveltuvat myös painamattoman pinnan analysointiin. Analyysia voidaan kuitenkin parantaa ottamalla huomioon, että läheltä tarkasteltuna valkaisemattoman taustan heijasteet voivat jäädä havaitsematta valkaistun pinnan korkean heijastekertoimen takia, mutta voivat tulla näkyviin suuremmalta etäisyydeltä tarkasteltuna. Tämä voi vaatia taajuusanalyysin laajentamista ottamaan huomioon variaatioiden sijainnin.
Opinnäytetyössä kerättiin tietoa white top mottlingin analysointiin liittyvistä fysikaalisista ja fysiologisista tekijöistä sekä käytössä olevista menetelmistä. Ulkopakkauskartonkilajien valmistuksen ja tuoteperheen esittelyn jälkeen käsitellään mottlingin optiseen mittaukseen liittyviä termejä ja käsitteitä. Seuraavaksi on katsaus ihmisen näköjärjestelmän toiminnasta ja havainnoinnin rajoitteista. Mottlingin mallintaminen ja analyysimenetelmien rakentaminen perustuvat ihmisen näköjärjestelmän kykyyn havainnoida valon aallonpituuden ja intensiteetin variaatioita. Lopuksi esitellään yleisesti mottling-analyysiin käytettyjä menetelmiä, kuten Fourier (taajuus-)analyysi, myötäesiintymä (co-occurence), FFT, aallokekuvan kohinan vaimennuksen (wavelet image denoising) teoria ja moniulotteinen skaalaus. Liitteenä on muutama kaupallisesti tarjolla oleva mottlinganalyysimenetelmä.
Käytössä olevat menetelmät, kuten STFI mottling expert, antavat yksiköttömän, painotetun vaihtelukertoimen arvioina mottlingista. Nämä menetelmät ovat tehty ensisijaisesti painojäljen mottlingin mittaamiseen, mutta soveltuvat myös painamattoman pinnan analysointiin. Analyysia voidaan kuitenkin parantaa ottamalla huomioon, että läheltä tarkasteltuna valkaisemattoman taustan heijasteet voivat jäädä havaitsematta valkaistun pinnan korkean heijastekertoimen takia, mutta voivat tulla näkyviin suuremmalta etäisyydeltä tarkasteltuna. Tämä voi vaatia taajuusanalyysin laajentamista ottamaan huomioon variaatioiden sijainnin.